EAN: 9783406761959

9783406761959 - Becksche Kurz-Kommentare   Europäisches Patentübereinkommen Leinen
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Zum Werk Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern. Vorteile auf einen Blick Erläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktiker gründliche Darstellung nach deutschem Kommentarstandard Mitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften Zur Neuauflage Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG). Zielgruppe Für Rechtsanwaltschaft Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen patentamtliche Prüferinnen und Prüfer Richterschaft Erfinderinnen und Erfinder Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.
Produktinformationen zuletzt aktualisiert am
02.04.2025 um 06:34 Uhr


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EAN
9783406761959
MPN
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ASIN
340676195X
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Bücher & Zeitschriften

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