9783658438203 - Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

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Ergänzend zu Vorlesung zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgeführt für Schaltdiode Kapazitätsdiode npn-Bipolartransistor N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor CMOS-Array-Transistoren Operationsverstärker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur Licht Feuchte Kraft Schall Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschließende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen monokristallinen und Dünnschicht-Silizium-Solarzellen.

Produktinformationen zuletzt aktualisiert am
29.03.2025 um 09:54 Uhr

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9783658438203

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ASIN

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